SEM
- 扫描电子显微镜 : Scanning Electron Microscope
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Quanta FEG 250即 FE-SEM是一种观察金属、半导体、陶瓷、聚合物、有机材料、生物等材料和纳米材料的形状和形态的设备。
我们的设备通过使用低真空模式来减少充电效应现象，甚至可以分析低电导率的样品，我们可以通过 EDS 分析材料的定性分析和定量分析。
Equipment Information
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FE-SEM (FEI Quanta FEG 250)
- High Resolution : 2nm at 30keV (X 150K)
- Magnification : ~ 500,000
- High Vacuum / Low Vacuum
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EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)
- Detector size : 10㎟
* Point & Area
* Mapping
* Line scan
图像分析
EDS 分析 – 面积/点
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- L.sec : 204.8
- 5.556K Cnts
- 0.840 keV
- Det : Apollo XP-SDD
